Karya Ilmiahku

STUDI ANALISIS CAVITY PADA ALAT MUSIK DAN DIVAIS SEMIKONDUKTOR

Rudianto

Pembimbing

Dr. Jasruddin Daud Malago, M.Si

Drs. Abdul Haris,M.Si

Abstrak

Penelitian ini bertujuan memperoleh informasi tentang tinjauan rongga (cavity) pada alat musik dan karakteristik interferometer Fabry-Perot pantulan sinar ganda yang dikembangkan menjadi interferometer dengan dua dan tiga lapisan tipis material. Penelitian ini adalah penelitian tinjauan pustaka dengan kajian cavity pada alat musik dan divais semikonduktor, pada alat musik tinjauan dalam hubungannya terhadap efek substain bunyi yang dihasilkannya, sedangkan pada divais semikonduktor tinjauan melalui analisa persamaan dengan pengembangan persamaan dari interferometer Fabry-Perot pantulan sinar ganda (satu lapisan tipis dengan indeks bias n) menjadi (1) interferometer dua lapisan tipis dengan indeks bias (nH) dan (nL) dan (2) interferometer tiga lapisan tipis dengan indeks bias (nH), (nL) dan (nH). Dari hasil analisis pada divais semikonduktor diperoleh bahwa Semakin banyak lapisan material yang digunakan semakin kecil coefficient finesse (koefisien kehalusan F) sehingga intensitas yang diperoleh pun semakin besar yakni

Dari gambaran hasil penelitian di atas dapat disimpulkan bahwa Semakin banyak lapisan material yang digunakan semakin kecil coefficient finesse (koefisien kehalusan F) sehingga Intensitas yang diperoleh pun semakin besar.
Keyword : Cavity, Indeks bias lapisan, Intensitas.